紅外熱像儀技術(shù)在電氣開關(guān)站和IC芯片的應(yīng)用

眾所周知，紅外熱像儀技術(shù)是通過使用非接觸式紅外熱像儀設(shè)備來獲取和分析熱信息的科學。它的獨特優(yōu)勢是：非接觸式，實時和二維圖像。紅外熱像儀可以分為兩種成像方式，分別為主動熱像儀技術(shù)和被動式熱像儀技術(shù)。紅外熱像儀可以用于電氣開關(guān)站測溫和芯片測溫，用于查找熱點以及潛在的故障地點。

電氣開關(guān)站是發(fā)電站和用戶之間的接口，它容納了無數(shù)的高壓大電流設(shè)備，以及電纜，變壓器，絕緣子等數(shù)百條。由于過熱，所有這些都是潛在的故障候選者。這是由于不正確松動的連接引起的。由于松動的連接或有故障的組件的電阻加熱而產(chǎn)生的熱量是組件故障的先兆，從而導致發(fā)電廠和用戶的經(jīng)濟損失。這數(shù)百個連接無法通過常規(guī)方式進行溫度測量，而且僅在帶電時才導致電阻發(fā)熱，從而導致設(shè)備無法進行接觸式測量。在沿海站點，紅外熱像儀計劃作為季風前期的一項預(yù)防措施。紅外熱像儀活動在太陽落山后的傍晚進行，這樣可以避免由于太陽反射而可能造成的錯誤，并且與明亮的陽光相比，還可以提高LCD屏幕的可見度。在風會引起溫度降低的邊際情況下，避免了大風期以減少誤差。通過使用紅色調(diào)板（而不是鐵調(diào)板）可以快速查明圖像的最熱點，從而改善了分析效果。對于紅外熱像圖，架空線中的小尺寸跳線連接，使用7度遠攝鏡頭（相對于標準24度鏡頭）進一步提高了分辨率是一個很大的優(yōu)勢。

結(jié)論往往是在短短的3-4小時檢查時間內(nèi)，可以輕松找到幾個帶有松動連接，電刷連接，絕緣子過熱，母線連接，疏水閥等的過熱跳線。隨后對它們進行了糾正，并使用紅外熱像儀再次驗證了健康狀況。

圖為紅外熱像儀

出于好奇，研究者將紅外熱像儀帶到了IC實驗室，實驗室正在開發(fā)芯片測溫?？焖賿呙枋前l(fā)現(xiàn)熱量散發(fā)和有可能改善空間區(qū)域的條件。在不同的組件和集成電路上觀察到明顯的溫差。發(fā)現(xiàn)電源總線，功率晶體管和散熱片過熱，很容易確定IC的過熱，例如存儲芯片，微處理器芯片等。由于過熱導致的組件故障會導致整個數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)陷入困境，這對操作工程師來說是一場噩夢。意識到通過紅外熱像儀輕松捕獲散發(fā)的熱量可以揭示電子設(shè)計中的薄弱環(huán)節(jié)，從而對芯片測溫，以至于進一步對面板和系統(tǒng)進行更詳細的研究。